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X-Ray and Image Analysis in Electron Microscopy - Rilegato

 
9780964145528: X-Ray and Image Analysis in Electron Microscopy
Rilegato
ISBN 10: 0964145529 ISBN 13: 9780964145528
Casa editrice: Princeton Gamma-Tech
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9780964145528: X-Ray and Image Analysis in Electron Microscopy
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Friel, John J.
ISBN 10: 0964145529 ISBN 13: 9780964145528
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